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オープン・ショート・リーク テストシステム AITS-OSL

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このカタログについて

ドキュメント名 オープン・ショート・リーク テストシステム AITS-OSL
ドキュメント種別 製品カタログ
ファイルサイズ 2.3Mb
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このカタログ(オープン・ショート・リーク テストシステム AITS-OSL)の内容


Page 1:オープンオープンオープンオープン・・・・ショートショートショートショート・・・・リークリークリークリーク テストシステムテストシステムテストシステムテストシステムAITSAITSAITSAITS----OSLOSLOSLOSL■ LSI の多ピン化に対応した Low コスト版コンパクトテスタ■ 1 個測で最大 2048 ピンのデバイスに対応可能■ 被試験デバイス(DUT)を最大 8 個同時測定可能■ オープン・ショート検査だけではなく、リーク検査も可能■ 検査する LSI に合わせてピン数をカスタマイズ可能■ プログラム言語の習得が不要特長特長特長特長基本構成基本構成基本構成基本構成定電圧・定電流源(VIC/P)を搭載したマトリクス DC 測定テスタです。オペレーティングシステムには Windows を採用し、GUI ベースの容易な操作性を実現しています。検査プログラムは、デバイスの検査ピンを選択し、検査条件を入力して作成する為、プログラム言語を習得する必要はありません。ハンドラ/プローバとの接続時には、端子のピン配置をソフトウェアで設定できる為、多種のハンドラ/プローバに対応できます。量産画面 検査プログラム作成画面ハンドラ設定画面

Page 2:■ バーンイン検査前後のデバイスを簡易的に選別■ 最終出荷前の選別検査、出荷直前の混入検査■ 組立工程の兆候管理 (組立不良解析 & 歩留りの安定化)■ デバイス(試作品)評価< 使用事例 >組立工程に兆候管理(ワイヤー断線/ボンディング不良の除去)を追加することで、コスト低減が可能※1寸法の高さは、キャスターを除いた高さです。 (キャスターを取り付けた場合、70mm 高くなります。)※2同測数は 1 / 2 / 4 / 8 個同測の中から選択できます。※3テストヘッド、自己診断は、オプションです。製品デザイン、仕様は改良のため予告なしに変更することがあります。Windows は米国 Microsoft Corporation の米国及びその他の国における登録商標です。※ ご要望に応じて追加ソフトウェア開発等も承ります。用途用途用途用途出荷オープン・ショート・リーク検査ウエハーチップD/B ~ 封止マーキングカット&ベンド組立工程 検査工程( 組立兆候管理 )仕様仕様仕様仕様□吉島工場 〒937-0041 富山県魚津市吉島 829TEL (0765) 23-6176 FAX (0765) 23-6172□九州事業所 〒808-0135 北九州市若松区ひびきの 1-5共同研究開発センター2 号館 202 号室TEL (093) 695-3613 FAX (093) 695-3614定電圧・定電流源(VIC/P)マトリックスチャンネル数出力範囲分解能電圧レンジ電流レンジピン数4ch / ボード±18V / ±30mA16bit2 / 8 / 18V0.03 / 0.3 / 3 / 30mA128pin / ボードDC モジュール寸法(W×H×D)重量消費電力電源600 × 700※1× 70065kg 以下250VA 以下100V ± 10% 50 / 60Hz標準仕様 (4 個測、1024pin 仕様)本社TEL〒937-0017 富山県魚津市江口 2184FAX (0765) 22-3916 (代)(0765) 22-3477 (代)同測数※2テストヘッド※3キャリブレーション自己診断※3外部 I/F標準仕様4 個測1024pinカスタマイズ8 個測2048pin1DUT × 1024pin2DUT × 512pin4DUT × 256pin1DUT × 2048pin2DUT × 1024pin4DUT × 512pin8DUT × 256pinその他お客様とのお打ち合わせあり外付けの自己診断 BOX を使用TTL (ハンドラ/プローバ通信用)USB2.0LAN (10/100/1000Base-Tx)ファイナル検査