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SiC半導体や、SiC半導体と組合わせて使用する装置を、実機に搭載させる事なく、実環境に近い評価試験が可能となる装置です。
このカタログについて
| ドキュメント名 | SiC半導体評価用試験器 |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 137.5Kb |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 東京精電株式会社 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログ（SiC半導体評価用試験器）の内容
Page 1:東京精電株式会社東京精電株式会社東京精電株式会社東京精電株式会社 URL : http://www.tokyo-seiden.co.jp東京営業所 〒168-0081 東京都杉並区宮前 4 丁目 28 番 21 号 TEL. 03-3332-6666 FAX. 03-3332-6672⻑野営業所 〒386-0155 ⻑野県上⽥市蒼久保 1216 番地 TEL. 0268-35-0555 FAX. 0268-35-2895名古屋営業所 〒462-0841 名古屋市北区⿊川本通 4 丁目 36 番地 ⿊川籏ﾋﾞﾙ 8F TEL. 052-991-9351 FAX. 052-991-9350※本カタログの内容は 2014 年 6 ⽉現在のものです。※カタログ記載の内容はお断り無く変更することがあります。2014 年 6 ⽉ 23 日 ＳＡＬ-0002B※計測器は、お客様のご要望に応じて用意いたします。※各仕様につきましては、お客様のご希望に対応したカスタマイズ設計を預かります。SiSiSiSiCCCC 半導体評価用試験器半導体評価用試験器半導体評価用試験器半導体評価用試験器◆概要◆概要◆概要◆概要本装置は SiC 半導体や、SiC 半導体と組合わせて使用する装置を、実機に搭載させる事なく、実環境に近い評価試験が可能となる装置です。◆特長・用途◆特長・用途◆特長・用途◆特長・用途・実機搭載状態に近い条件で、損失、発熱、騒音、耐久性、各種計測器を用いて波形の確認が可能となります。・回生機能を有している為、大容量の試験を少ない消費電力で実現出来ます。・SｉC 半導体以外の、車載用リアクトル、IGBT、IPM 用の試験器へ応用も可能です。◆仕様◆仕様◆仕様◆仕様仕様例出力周波数 100kHz印加電圧 DC250V印加電流 DC150A入力仕様 三相 AC200V 50/60Hz販売価格（税抜き） 700 万円評価用回路例評価用 SｉC 半導体