SWIRイメージング用に最適化された設計。様々なアプリケーションに使用できるレンズ
●電子基板検査、監視、短波長赤外分光、偽造防止、工程品質管理等
●波長900～2500nmまで色収差を補正したレンズ
●ARコーティングで全波長範囲において透過率が72％以上
●Cマウント2/3型カメラにも対応。ディストーションが0.2％以下に抑えた設計
このカタログについて
| ドキュメント名 | SWIR用固定焦点レンズOK002-Mon |
|---|---|
| ドキュメント種別 | 製品カタログ |
| ファイルサイズ | 425.4Kb |
| 関連製品 | |
| 登録カテゴリ | |
| 取り扱い企業 | 株式会社渋谷光学 (この企業の取り扱いカタログ一覧) |
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このカタログの内容
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SWIR用固定焦点レンズ
OK002-Mon
SWIRイメージング用に最適化された設計
電子基板検査、監視、短波長赤外分光、
偽造防止、工程品質管理等
様々なアプリケーションに使用できるレンズ
特 徴
➊波長900～2500nmまで色収差を補正したレンズ
➋ARコーティングで全波長範囲において透過率が72％以上
➌Cマウント2/3型カメラにも対応。ディストーションが0.2％以下に抑えた設計
型番‥OK002-Mon
仕 様
（平均）［％］ ＞７2
３７ ８．２
外形図
Φ36
SWIR用固定焦点レンズOK002-Mon shibuya
３４
Φ２２．９
１”－３２UN
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SWIR用固定焦点レンズOK002-Mon
型番：OK002-Mon