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ブルカージャパン㈱　ナノ表面計測事業部株式会社

物質材料の研究開発，品質管理のためのナノ表面分析 (AFM/SPM)のリーディングカンパニーです

ナノスケール・原子スケールにおける高分解による材料表面形状観察、粗さ測定、更には微細機械特性等が可能な高性能原子間力顕微鏡（AFM）や、高速・非破壊による精密粗さ計測が可能な白色光干渉型顕微鏡の販売・アフターサービスにより、大学・官公庁から企業製造工場まで最先端技術を必要とする研究開発・品質管理に幅広いソリューションを提供。今後の豊かな社会に不可欠なナノテクノロジーの発展に深く貢献しています。

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企業概要

会社名 ブルカージャパン㈱　ナノ表面計測事業部株式会社
(ぶるかーじゃぱんなのひょうめんけいそくじぎょうぶかぶしきがいしゃ)
所在地 〒 104-0033
東京都中央区新川1-4-1
資本金 1億6000万円（払込み資本）
事業内容 ●ブルカー ナノ表面計測事業部
ナノ表面分析システム、高速・非破壊粗さ計測装置全般。
原子間力顕微鏡システム【AFM/SPM】
AFM/SPM用プローブ【AFM Probe】
白色光干渉型顕微鏡【WYKO】
スタイラスプロファイラー【DEKTAK】
大型自動原子間力顕微鏡【DAFP,3DAFM】
トライボロジー／メカニカル試験装置【TMT】
ナノインデンテーションシステム【TriboIndenter】
SPM組み込み型ナノインデンター【TriboScope】
SEM/TEM電子顕微鏡組み込み型ナノインデンター【Picoindenter】
主要取引先 大学、官公庁所属研究機関、一部上場企業各社
FAX 03-3523-6364
WEBサイト http://www.bruker-nano.jp/
業種 その他の生産用機械器具製造業
その他の業務用機械器具製造業
その他の製造業

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