光干渉式膜厚計
IRMS8599S
IRMS8599Sは測定対象の薄膜に投光し、表面反射光と裏面反射光による干渉から膜厚を測定します。膜厚が厚くなるほど、反射率スペクトルに現れる波（干渉波）の数が増加する原理を利用して膜厚を計測します。検量線が不要で、高精度な計測が行えます。
○RS-485通信・アナログ出力機能搭載
○連続分光方式でFFT解析、CF（カーブフィッテング）解析が可能
○最大4層を同時計測
○使用温度0～50℃、IP65（防塵防滴構造）
光干渉式膜厚計 IRMS8599Sのダウンロード (1.2Mb)
| 測定方式 | 可視近赤外連続分光方式 |
|---|---|
| 測定波長域 | 0.4～1.0μm |
| 測定距離 | 10～80mm |
| 測定間隔 | 10～10000ms |
| アナログ出力 | 4～20mAC DC（負荷抵抗500Ω以下） |
| 通信インターフェイス | RS-485 |
| 電源 | 24V DC |
| 最大消費電力 | 150VA |
| 質量 | 3.5kg |
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企業情報
株式会社チノー
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