PIFOC®ロングストローク対物レンズピエゾステージ

P-725

~460μmとロングストロークの対物レンズ用位置決めステージ

ピーアイ・ジャパン株式会社

P725 PIFOC®ナノフォーカスシステムは、ロ
ングストローク、高速、ピエゾ駆動の顕微鏡対物レンズのナノフォーカス/スキャニング用デバイスです。ストロークが長く取れる(460μmまで)一方で、高さ寸法をP-721より20%低くすることに成功し、サブナノメートルの分解能はそのまま維持されています。新開発の摩擦のないフレクシャガイドシステムにより精度が向上した為、高速位置決め、高速スキャン時に非常に高いフォーカス安定性を得ることができます。

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主な用途 ● 3D画像
● スクリーニング
● 干渉計
● 各種計測
● ディスクドライブ検査
● オートフォーカスシステム
● 共焦点顕微鏡
● バイオテクノロジー
● 半導体試験
URL http://www.pi-japan.jp/products_category_pztpos_microscope_pifoc.html

ピーアイ・ジャパン株式会社

PI(Physik Instrumente)社はドイツ・カールスルーエを本拠地とし、弊社ピーアイジャパンは、日本で30年以上に渡り、半導体、計測測定、顕微鏡、機械加工、天体観測など様々なお客様に高精度...

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